• ホーム
• 製品・サービス
• HDD/SSD評価設備
• SSD(PCIe) バーンイン装置

SSD(PCIe)
バーンイン装置

用途

特徴

最大96台の同時試験が可能。
幅広い温度範囲(常温～+75℃)。
ドライブのインターフェースは、PCIe Gen3／NVMe 1.3まで対応。
ドライブ用供給電源は 2系統（3.3V,12V）。
ポート毎および系統毎に独立した制御と電圧と電流の計測が可能。
温度制御とInterface試験を同期させた試験が実施可能。
SMART TESTER for PCIeと同じスクリプトおよびオプションソフトウェアが使用可能。
ポートに搭載されているLEDにより、試験の状態および結果を判別可能。
SSDの低消費電力モード(L1.2)における微小電流測定をサポート(測定精度：±5%rdg.±10dgt.:100μA～ 1mA時)。
ポート数、温度範囲等のカスタマイズが可能。

モデル

仕様

名称	PCI Express対応バーンイン試験装置
型式	H96PB-P3F4
槽外形寸法	1000mm(W)×1400mm(D)×1900mm(H) ※最大突起部含まず
設置スペース	2400mm(W)×3550mm(D)×2000mm(H)
本体重量(kg)	630kg
使用環境	外気温度: 22℃～28℃　外気湿度：　20～80%RH ※結露なきこと
装置の電源電圧及び消費電流	交流３相 AC 200V ±10%以内 50/60Hz 消費電流 40A
ユーティリティ	-
安全装置	過昇温防止機能 非常停止ボタン 非常停止または停電後の自動復帰防止機能
被試験物搭載数	96 台
被試験物種類	種類：PCI Express I/F 対応SSD 対応 I/F：PCIe Gen4 / PCIe Gen3 Lane数：4 (最大)に対応 NVMe 1.4, NVMe 1.3, AHCIプロトコルをサポート 許容発熱負荷： 15W/port 許容サイズ： アドインカードタイプ HHHLサイズ(167.65mm(W)×111.15mm(D)×15mm(H)) ※PCブラケットは非対応
温湿度制御範囲	(室温 +10℃) ～ +75℃
温度精度	±3℃以内(安定時:)
湿度精度	-
ドライブ供給電圧	12.0V 系 出力電圧：8.0V～14.5V 20mV ステップ可変 電圧精度：設定電圧±100mV 負荷電流：3.5Amax 3.3V 系 出力電圧：2.0V～ 4.0V 10mV ステップ可変 電圧精度：設定電圧± 50mV 負荷電流：4.2Amax
ドライブ電源電圧測定	12.0V 系 0.0V～ 15.0V 測定精度±3%F.S. 分解能：約 7.9mV 3.3V 系 0.0V～ 5.0V 測定精度±3%F.S. 分解能：約 3.5mV 測定間隔 125μsec～200msec 間隔(125μsec ステップ) 最大 65520 サンプル
ドライブ電源電流測定	12.0V 系 0.0A～ 4.0A 測定精度±3%F.S 分解能：約 2.0mA 3.3V 系 0.0A～ 5.0A 測定精度±3%F.S 分解能：約 2.6mA 測定間隔 125μsec～200msec 間隔(125μsec ステップ) 最大 65520 サンプル